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    LCR 表基本量測原理
    瀏覽次數:5852次 發布日期:2019-01-18
    引言:

    在磁性元器件設計的領域里,常用到的量測儀器便是LCR表。對于其量測頁面所顯示的許多L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z/θ 量測結果,可能在許多使用到此類儀器的工程人員腦海中常會浮現出一些問號--- 電感、阻抗、Q值…是怎么量出來的?一般LCR表測試頻率在2MHz內,采用的方式多是四端子自動平衡電橋法。本文以HP4284A為例,以簡化的測試回路來呈現四端子Lc-Lp-Hp-Hc測試點所在位置,藉由測試信號源Vosc與待測物(DUT)的端電壓Vm的關系引出LCR表里的偵測元件所直接量測的三個參數。再透過這三個參數搭配待測器件的等效串、并聯模型,引導出其量測頁面所顯示的L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z是如何在儀表內按相關設定的數學轉換公式,而得以間接被計算出來的。后提出了串、并聯模式的選用時機為何?引領讀者探索上述問題的答案,希望能對有志于從事磁性元器件的設計者有所幫助!
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